[3] 単一ナノ分子・磁気抵抗素子~スピン偏極STMによる単一分子電子スピン伝導測定~(Single Molecular Magnetoresistance : Spin Conductance through a Single Molecule by means of Spin-Polarized STM)
TKYamada Journal of The Surface Science Society of Japan, 34, 8, 443 - 448, 2013 DOI: 10.1380/jsssj.34.443
[2] Recovery of nanomolecular electronic states from tunneling spectroscopy: LDOS of low-dimensional phthalocyanine molecular structures on Cu(111)
Y. Yamagishi; S. Nakashima; K. Oiso; T. K. Yamada Nanotechnology, 24, 39, 5704, 2013 DOI: 10.1088/0957-4484/24/39/395704
[1] How contacting electrodes affect single π-conjugated molecular electronic states: LDOS of phthalocyanine nano molecules on MgO(001), Cu(111), Ag(001), Fe(001) and Mn(001)
S. Nakashima; Y. Yamagishi; K. Oiso; T. K. Yamada Japanese Journal of Applied Physics (Selected Topics in Applied Physics: Nano Electronics and Devices: Characterization and Control of Nano Surfaces and Interfaces), 52, 11, 0115, 2013 DOI: 10.7567/JJAP.52.110115
スピン偏極STMによる単一分子の磁気伝導特性の解明
研究目的
ゆらぎを伴う情報伝達システム構築は、今後の素子微細化において最重要課題である。単一分子を介するゆらぎ伝導の精密測定と原理解明、外部ノイズによる確率共鳴の制御を行うことで、複数単一分子による分子演算素子(分子アーキテクト)を実用化するための基礎研究を行う。
領域内での役割と必要性
本研究A03-3「スピン偏極STMによる単一分子の磁気伝導特性の解明」では、単一分子伝導ゆらぎの本質を探り、外部ノイズによる確率共鳴の発現と制御を目指す。電流ゆらぎ情報伝達による分子アーキテクト複数分子情報磁気素子を開発する。
研究内容
STM単一分子計測およびスピン偏極STM単一分子電子スピン伝導計測により、①電子スピン「ゆらぎ」精密測定、②確率共鳴を発現する外的ノイズ要因の探索を実施し、確率共鳴発現プロセスの解明を目指す。
追加情報
研究課題番号:25110011 科研費データーベースはこちら
メンバー
Papers List
2015
Hirofumi Tanaka; Ryo Arima; Minoru Fukumori; Daisuke Tanaka; Ryota Negishi; Yoshihiro Kobayashi; Seiya Kasai; T. K. Yamada; Takuji Ogawa
Scientific Reports, 5, 12341 - 12341, 2015/7/24
DOI: 10.1038/srep12341
2013
TKYamada
Journal of The Surface Science Society of Japan, 34, 8, 443 - 448, 2013
DOI: 10.1380/jsssj.34.443
Y. Yamagishi; S. Nakashima; K. Oiso; T. K. Yamada
Nanotechnology, 24, 39, 5704, 2013
DOI: 10.1088/0957-4484/24/39/395704
S. Nakashima; Y. Yamagishi; K. Oiso; T. K. Yamada
Japanese Journal of Applied Physics (Selected Topics in Applied Physics: Nano Electronics and Devices: Characterization and Control of Nano Surfaces and Interfaces), 52, 11, 0115, 2013
DOI: 10.7567/JJAP.52.110115